Accueil Mesures et essais Journée technique ASTE-Valeo sur la prise en compte de la CEM dans la fiabilité des systèmes complexes

Journée technique ASTE-Valeo sur la prise en compte de la CEM dans la fiabilité des systèmes complexes

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L’ASTE organise le 7 novembre 2017 à Créteil, en partenariat avec la société Valeo, une journée technique dans les locaux de l’équipementier français. Cette journée portera tout particulièrement sur la « Prise en compte de la compatibilité électromagnétique dans la fiabilité des systèmes complexes ».

Au programme de cette journée : 

9h00 – 9h30 : Accueil des participants

9h30 – 9h45 : Présentation de l’ASTE et du programme de la journée (ASTE et Valeo)

9h45 – 10h15 : Le projet collaboratif GAM-PME (Metexo). Un guide d’aide interactif à la mesure en environnement électromagnétique industriel pour les PME-PMI

10h15 – 10h45 : Impact du design CEM sur la fiabilité et sureté de fonctionnement 

11h15 – 11h45 : Projet collaboratif européen Peter (Pan-European Training, research and education network on Electromagnetic Risk management) (Valeo)

11h45 – 12h15 : Prise en compte des facteurs de vieillissement dans la stratégie CEM système (Airbus Safran Launcher)

12h15 – 12h45 : Application des chambres à brassage de mode dans l’industrie (UTBM)

14h00 – 14h30 : Détermination de la diaphonie antre plusieurs harnais complexes d’un avion (Safran Electrical Power)

14h30 – 16h : Visite des moyens CEM de Valeo

16h00 – 16h30 : Retour en salle pour debriefieng et clôture de la journée

Source : https://www.aste.asso.fr/

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