Astelab 2021 : Ouverture imminente des inscriptions !

Véritable lieu d’échanges et de partages d’expérience, cet événement phare de l’ASTE (partenaire de la revue Essais & Simulations) doit ainsi réunir la communauté des essais à laquelle s’ajoute le Nafems. Les deux associations ont déjà, en novembre dernier, travaillé ensemble sur la Nafems France Conference, l’ASTE ayant assuré trois sessions au cours de cet événement digital.

En outre, parallèlement au colloque, un salon à accès libre réunira les fabricants de capteurs et de moyens d’essais ainsi que les développeurs de solutions. Outre le colloque et l’espace salon qui réunira plusieurs dizaines d’exposants, Astelab proposera aux participants une visite du Laser Megajoule.

Par ailleurs, un salon en accès libre sera organisé parallèlement au colloque. Il réunira les fabricants et vendeurs de capteurs, de systèmes d’acquisition et de moyens d’essais, les laboratoires d’essais, les éditeurs et vendeurs de logiciels de simulations, ainsi que les sociétés de service en calculs

Pour s’inscrire, contacter Patryja Perrin au 01 61 38 96 32, par email : pperrin@aste.asso.fr ou directement sur le site d’ASTE.

Programme du colloque

Mercredi 30 juin : Session « Mesures, corrélation calculs et simulation » 

Mesures de déformations mécaniques en environnements thermiques.
Minimisation des incertitudes de mesures et confrontation à la prévision calculs.
CEA CESTA – F. MALKA, P. GENAIN, A-C. LE MENTEC 

Continuité numérique : du stockage et analyses des données de mesure vibratoires
jusqu’à la virtualisation des essais par jumeau numérique mécanique.
HBK – Amaury CHABOD    
        
Vibrations non-linéaires d’une poutre bi-encastrée soumise à deux excitations aléatoires corrélées – essais, modélisation et simulations.  
CEA CESTA – Sébastien TALIK, Maxence CLAEYS et Jean-Pierre LAMBELIN         

Simulation du fluotournage : ses enjeux et contraintes.
MBDA FRANCE – François FRASCATI et Agathe DEMAY

Choix d’un modèle éléments finis de liaison vissée, validé par approche V&V.
CEA CESTA – H. GARNIER

Mercredi 30 juin : Session « E-mobilité »

Complete validation of e-mobility systems.
EMITECH – Jean-Christophe PIN

Les enjeux de la flexibilité pour la qualification des batteries EV.
IMV – Miguel MAROUS     

Jeudi 1er juillet : Session « Vibration, mesures 3D, analyses 3D et MIMO »

Spécification d’environnement multiaxial aléatoire.
Effets de la proximité des modes et de la corrélation d’environnement sur une structure simple.
CEA CESTA – M. AIME, A. BANVILLET et J-P. LAMBELIN

Vibrométrie laser 3D capteur optimisé cas d’une mesure avec excitateur électrodynamique.
HGL DYNAMICS – Christophe MARCADET
    
Full-field modal analysis by using Digital Image Correlation technique.
SIEMENS – Raphaël HALLEZ

Jeudi 1er juillet : Session « Méthodes d’essais » 

Méthodologie théorique et expérimentale de développement, d’amélioration et de validation de systèmes d’emballage soumis aux contraintes environnementales (vibrations, chocs) du transport. Exemples concrets du constat sur le terrain jusqu’aux simulations sur machine hydraulique de tests en vibration et en chocs.
SEREME et ESIEC – Jean-Baptiste NOLOT, Damien ERRE, Serge ODOF, Vincent LAGARRIGUE, Dominique TERTRE.

Aspects généraux et grands principes de la nouvelle normalisation X50  144-3.
DGA TT – Pascal LELAN       

Optimisation des préparations d’essais mécaniques.
AIRBUS DEFENSE & SPACE – N. CHAUVET, J. GODEAU, M. CAUHOPE et C. PONT

15h30-18h30 : Visite des moyens d’essais du CEA CESTA (laser mégajoule, …) 

19h30 : Dîner – conférence

Vendredi 2 juillet : Session « Capteurs » 

Utilisation de caméras rapides pour capter la dynamique de chocs et d’usure sur un assemblage de pièces mécaniques présentes dans les cuves d’un réacteur nucléaire.
EDF R&D – Pierre BADEL
        
La place des mesures innovantes dans le développement d’Ariane 6       
ARIANE GROUP – P. VAN DER SYPT, M. LE BIHAN, M. QUEYRENS et D. BARNONCEL   

Intérêts et usages des technologies piézorésistives & piézoélectriques, d’éléments sensibles non amortis, filtrés ou amortis pour les capteurs en situations de choc et d’essais aggravés.        
PCB et ENDEVCO       Philippe de CORDEMOY et Philippe BRIQUET 

Caractérisation des capteurs MEMS accélérométriques.        
ALLIANTECH – Rémi MERCIER 

11h30-12h00 : Table ronde